方法分类
质量与可靠性
生产或测量过程要监控是否受控、能力是否够时用控制图与量具研究。
个体分布标识
对过程数据拟合多种分布并比较拟合优度,为能力分析选分布。
正态能力分析
在正态假设下计算Cp、Cpk等过程能力指数并对照规格限。
非正态能力分析
在选定非正态分布下估计过程能力,避免强行套用正态Cpk。
公差区间
估计以指定置信水平覆盖总体至少P比例的区间(统计公差)。
Xbar-R控制图
用子组均值图与极差图监控过程均值与组内变异是否受控。
I-MR控制图
对无法合理分组的单值数据,用单值图与移动极差图监控过程。
P(NP)控制图
监控不合格品率(P图)或不合格品数(NP图)是否统计受控。
EWMA控制图
对过程水平做指数加权移动平均,更灵敏地检出小漂移。
交叉量具研究
在操作者与零件交叉的实验下分解重复性与再现性(Gage R&R)。
属性一致性分析
评估检验员之间及对照标准的属性判定一致率与Kappa。
嵌套量具研究
在操作者嵌套于零件(或批次)的设计下分解重复性与再现性。
量具线性与偏倚研究
评估量具在整个测量范围内的线性误差与相对基准的偏倚。
参数分布分析
为寿命或强度数据拟合Weibull、对数正态等参数分布并估计可靠度。